Applications et contraintes des technologies radiofréquence en identification et traçabilité

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Jeudi 16 juin 2011 08:30-12:30Orléans
Dans le cadre de l’action collective en Région Centre ETIC, soutenue par l’Union Européenne et la DIRECCTE Centre, CRESITT Industrie en partenariat avec CAP’TRONIC, Orléans Val de Loire Technopole et Polytech’Orleans vous propose un séminaire technique gratuit sur la thématique de la traçabilité :
Programme :
- 8h30 - Accueil

- 9h00 - Ouverture et présentation du programme du séminaire par CRESITT Industrie

- 9h10 - Mise en œuvre et applications des technologies radiofréquences et RFID pour l’identification et la traçabilité, par Bernard Jeanne-Beylot, expert en identification automatique (RFID & NFC)

- 10h10- La CEM des capteurs sans fil : aspects normatifs et règles de conception, par Dominique ADAM, Atcom Télémétrie

- 10h40 - Pause

- 10h55- Technologies sans fil faible consommation : principes et exemples de mise en œuvre, par Julien WERLY, CRESITT Industrie

- 11h25 - Présentation de l’action collective ETIC : séminaires et informations techniques, expertises, démonstrateurs, par Samuel ROUXEL, CRESITT Industrie

- 11h35 - Le programme CAP’TRONIC, par Jean-Marie LECLERCQ, JESSICA France

- 11h45- Présentation du mastère spécialisé Capteurs & Géosciences, par Mikaël MOTELIKA, Polytech’Orléans

- 12h05- Questions - Réponses

Inscription gratuite en ligne : cliquez ici

Lieu du séminaire :
Polytech’Orléans
site Galilée, Amphi Turing
12 rue de Blois 45 067 ORLEANS

Plan d’accès : cliquez ici

Ce premier séminaire sera suivi l’après-midi de 14H à 17H30 par le séminaire intitulé :

Géolocalistation et guidage en espace clos avec les technologies RF-RFID : Bilan et perspectives

Pour voir le programme : cliquez ici
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Le programme CAP’TRONIC est financé par le Ministère de l’Economie et des Finances.