Compatibilité Electromagnétique des Circuits Intégrés
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Du 31 janvier 2011 au 1er février 2011INSA de Toulouse (31)
À la fin de ce séminaire, vous comprendrez les mécanismes d’émission parasite et les stratégies de réduction de l’émission et de la susceptibilité des composants ; vous aurez une vue d’ensemble des mesures standard de l’émission et de susceptibilité, et les approches de modélisation prédictive.
Programme
Lundi 31/01/11 (9h-12h00 – 14h00-17h00)
E. Sicard
o Vue d’ensemble de la CEM Composants
o Concepts de base
o Méthodes de mesure
o Travaux pratiques sous IC-EMC
Mardi 01/02/11 (9h-12h00 – 14h00-17h00)
A. Boyer
o Modèles CEM composants
o Règles de conception
o Challenges futurs et Conclusion
o Travaux pratiques sous IC-EMC
Langues
Anglais/français, tous les documents fournis sont en Anglais
Lundi 31/01/11 (9h-12h00 – 14h00-17h00)
E. Sicard
o Vue d’ensemble de la CEM Composants
o Concepts de base
o Méthodes de mesure
o Travaux pratiques sous IC-EMC
Mardi 01/02/11 (9h-12h00 – 14h00-17h00)
A. Boyer
o Modèles CEM composants
o Règles de conception
o Challenges futurs et Conclusion
o Travaux pratiques sous IC-EMC
Langues
Anglais/français, tous les documents fournis sont en Anglais
Documents joints
- Plaquette séminaire (PDF – 462.7 ko)
Crédits © JESSICA FRANCE 2005 - 2011
Le programme CAP’TRONIC est financé par le ministère de l’Economie, de l’Industrie et de l’Emploi.