Conférences Enova Paris : Lutte anti-contrefaçon
Dans le cadre du salon Enova Paris, CAP’TRONIC et ARMIR vous invitent à des conférences et des ateliers sur le thème de la lutte anti-contrefaçon le mardi 23 octobre et le mercredi 24 octobre au parc des expositions de Paris - Porte de Versailles.
Programme prévisionnel :
Mardi 23 octobre 2018
Matin
10h-10h45 : Panorama général de la lutte anti-contrefaçon
D. Saussinan - UNIFAB
10h45-11h30 : (THID) : une technique nouvelle THz pour l’identification des produits
F. Garet – IMEP-LAHC
11h30 -12h15 : La thermographie infrarouge stimulée : un outil de lutte contre la contrefaçon
J.L.Bodnar - GRESPI
Après-midi
14h15-15h00 : Imagerie multispectrale IR/THz 2D et 3D dédiées au contrôle et à l’inspection de matériaux isolants opaque ou cachés. Application à la contrefaçon
J.P. Caumes – Nhetis
15h00-15h45 : Analyse de contrefaçon pharmaceutiques par technologie THz
B. Fischer – ISL
Mercredi 24 octobre 2018
10h30-11h15 : Vers la détection de contrefaçons par contrôle THz impulsionnel ultrarapide : imagerie couplée à la caractérisation de matériaux
Uli Schmidhammer - Teratonics
11h15- 12h00 : Machine learning : une nouvelle voie dans la lutte anti- contrefaçon ?
Y. Chaouche, consultant
Contact :
Michel Marceau - 01 69 08 24 90
Lieu de l’événement :
Paris expo Porte de Versailles