Exploitez les méthodes modernes de conception de cartes électroniques dédiées à la CEM

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Jeudi 22 novembre 2012 09:00-17:00Marseille
Objectif : être à même d’appréhender la CEM au niveau des composants électroniques et des cartes, d’intégrer les meilleures pratiques en terme de conception et être capable si besoin de mettre en œuvre une technique de mesure rapide de champ proche pour caractériser un système rayonnant.
Ce séminaire est destiné à tous les ingénieurs et techniciens chargés du développement de produits électroniques. Il a pour objectif d’appréhender les enjeux de la CEM sur les équipements, de leur apporter les conseils et les préconisations nécessaires à la réussite de l’industrialisation de leurs produits. Il permettra en matinée de faire le point sur les différentes recommandations de conception aux niveaux cartes et composants. L’après-midi est consacrée à la mise en œuvre d’une technique de mesure d’investigation en champ proche permettant d’identifier les sources de perturbations électromagnétiques.
Cette journée se veut pragmatique et sera illustrée de retours d’expériences et de témoignages.
Chaque stagiaire recevra à cet effet les différents documents reproduisant le contenu de cette journée d’information.


PROGRAMME



9h00-12h30 : Règles et Outils CEM pour la conception de cartes électroniques
- Rappels sur la CEM des composants
- La CEM des PCB : causes et remèdes d’aujourd’hui
- Etudes de cas et Retours d’expériences d’industriels
- Bilan et Perspectives des méthodes & outils de simulation

14h00 - 17h00 : La Conception assistée par les mesures CEM en champ proche
- Principes & Outils de la mesure en champ proche
- Éventail des applications (conception, gestion cycle de vie, capitalisation)
- Études de cas et Retours d’expériences d’industriels
- Bilan et Perspectives (technique, normalisation, applications,...)

Débat


Inscription gratuite mais obligatoire



Bulletin d’inscription ci-dessous à retourner avant le 16/11/12

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