Exploitez les méthodes modernes de conception de cartes électroniques dédiées à la CEM

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Jeudi 24 novembre 2011Lyon INSAVALOR
Appréhender la CEM au niveau des composants électroniques et des cartes et être capable de mettre en œuvre une technique de mesure rapide de champ proche pour caractériser un système rayonnant.

CAP’TRONIC et NEXIO vous invitent à profiter de leur expérience de terrain au travers d’une journée consacrée à 2 thématiques

8h30 - 12h : Règles et Outils CEM pour la conception de cartes électroniques
- Rappels sur la CEM des composants
- La CEM des PCB : causes et remèdes d’aujourd’hui
- Etudes de cas et Retours d’expériences d’industriels
- Bilan et Perspectives des méthodes & outils de simulation

14h - 17h : La Conception assistée par les mesures CEM en champ proche
- Principes & Outils de la mesure en champ proche
- Eventail des applications (conception, gestion cycle de vie, capitalisation)
- Etudes de cas et Retours d’expériences d’industriels
- Bilan et Perspectives (technique, norme, applications,...)

Les présentations des spécialistes NEXIO seront enrichies par des témoignages d’industriels reconnus spécialisés dans ces domaines tels que :
> Monsieur Samuel AKUE-BOULINGUI (ABB)
> Monsieur David ANTONIC (Johnson Controls)

Nombre de places limité - pas plus de 2 personnes par société inscrite

Clôture des inscriptions : 18 novembre 2011

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Téléchargez les documents présentés lors de ce séminaire (accès réservé aux personnes présentes au séminaire et aux adhérents CAP’TRONIC)
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