Exploitez les méthodes modernes de conception de cartes électroniques dédiées à la CEM
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Jeudi 24 novembre 2011Lyon INSAVALOR
Appréhender la CEM au niveau des composants électroniques et des cartes et être capable de mettre en œuvre une technique de mesure rapide de champ proche pour caractériser un système rayonnant.
CAP’TRONIC et NEXIO vous invitent à profiter de leur expérience de terrain au travers d’une journée consacrée à 2 thématiques
8h30 - 12h : Règles et Outils CEM pour la conception de cartes électroniques
Rappels sur la CEM des composants La CEM des PCB : causes et remèdes d’aujourd’hui Etudes de cas et Retours d’expériences d’industriels Bilan et Perspectives des méthodes & outils de simulation
14h - 17h : La Conception assistée par les mesures CEM en champ proche
Principes & Outils de la mesure en champ proche Eventail des applications (conception, gestion cycle de vie, capitalisation) Etudes de cas et Retours d’expériences d’industriels Bilan et Perspectives (technique, norme, applications,...)
Les présentations des spécialistes NEXIO seront enrichies par des témoignages d’industriels reconnus spécialisés dans ces domaines tels que :
> Monsieur Samuel AKUE-BOULINGUI (ABB)
> Monsieur David ANTONIC (Johnson Controls)
Nombre de places limité - pas plus de 2 personnes par société inscrite
Clôture des inscriptions : 18 novembre 2011
en remplissant le formulaire ci-dessous
Téléchargez les documents présentés lors de ce séminaire (accès réservé aux personnes présentes au séminaire et aux adhérents CAP’TRONIC)
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Le programme CAP’TRONIC est financé par le ministère de l’Economie, de l’Industrie et de l’Emploi.