L’IES et la fiabilité sous contraintes électriques, thermiques et radiatives

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Mardi 10 décembre 2013MONTPELLIER (34)
Transferts LR et Captronic vous ouvrent les portes de l’IES l’institut d’électronique, Unité Mixte de Recherche du CNRS et de l’UM2 à Montpellier.
La journée du 10 décembre sera consacrée à la fiabilité des composants et systèmes sous contraintes environnementales, électriques, thermiques et radiatives.
PROGRAMME
IES L’Institut Electronique – Campus Saint Priest

8:30 - 12:30

L’IES, spécialiste des composants et systèmes électroniques fiables pour l’Observation et la Mesure
Alain FOUCARAN, professeur et directeur de l’IES.

• EQUIPE RADIAC - RADIATIONS ET COMPOSANTS

Effets des radiations naturelles sur la fiabilité de l’électronique pour l’avionique et le terrestre
Frédéric WROBEL, Maître de conférences

Fiabilité de l’électronique face à l’effet de dose
Jérôme BOCH, Professeur

Effet de dose : Mesure de la contrainte
Jean-Roch VAILLE, Maître de Conférences

Pause

• GEM - GROUPE ENERGIE ET MATERIAUX

Rôle et problématique des couches isolantes dans la fiabilité des systèmes de puissance
Serge AGNEL, Professeur des universités, IES-GEM

Fiabilité en électronique de puissance embarquée
François FOREST, Professeur des universités, IES-GEM

• LA FORMATION "ENERGIE ET FIABILITE" LANGUEDOC-ROUSSILLON

Philippe ENRICI, Maître de conférences à l’IES, responsable du master "énergie et fiabilité"

Buffet

14:00 - 16:30
  • Visite des équipes de l’IES travaillant sur la fiabilité des composants
  • Rencontres B to B

INSCRIPTIONS
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