Le contrôle des composants électroniques

La technologie électronique est caractérisée par une augmentation de la complexité et des difficultés pour satisfaire les exigences de qualité et de robustesse tout en ayant comme objectifs un besoin de réduire le coût et le temps de développement.

C’est pourquoi, en fonction de la complexité du système, on observe un besoin de plus en plus important de recourir à la réparation de cartes défectueuses plutôt qu’au changement du système complet. Ceci s’explique par :
 la difficulté d’intégrer un nouveau système dans un environnement industriel contraignant
 le coût lié au changement du système complet (arrêt de production, gestion des interfaces, re-conception,…)
 la problématique du composant obsolète

Ce séminaire a pour objectifs de répondre à :
 la localisation de la panne sur une carte défectueuse
 la validation de la conformité du composant avant montage

PROGRAMME

• 13h45 : Accueil des participants

• 14h00-16h00 : Présentation
   le test sur carte et hors carte
   le principe de l’état forcé, norme de référence
   le test fonctionnel
   le test par analyse V/I
   la conformité des composants et la disparité de lot

• 16h00 : Démonstrations

• 17H00 : Questions / Réponses
  Rafraichissements

Intervenants :
Michel ROSSO et Ghislain HAZARD – Société DELTEST

Séminaire gratuit, inscription obligatoire
Date limite d’inscription : 14 Septembre 2012

Plan d’accès sur le site

Contact :
S. Vidal

Lieu de l’événement :
THESAME
20 Avenue du Parmelan
74 Annecy