Le contrôle des composants électroniques

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Jeudi 13 octobre 2011Vandoeuvre les Nancy (54)
La technologie électronique est caractérisée par une augmentation de la complexité et des difficultés pour satisfaire les exigences de qualité et de robustesse tout en ayant comme objectifs un besoin de réduire le coût et le temps de développement.
C’est pourquoi, en fonction de la complexité du système, on observe un besoin de plus en plus important de recourir à la réparation de cartes défectueuses plutôt qu’au changement du système complet.
Ceci s’explique par :
- la difficulté d’intégrer un nouveau système dans un environnement industriel contraignant
- le coût lié au changement du système complet (arrêt de production, gestion des interfaces, re-conception,…)
- la problématique du composant obsolète
Ce séminaire a pour objectifs de répondre à :
- la localisation de la panne sur une carte défectueuse
- la validation de la conformité du composant avant montage

Bien évidemment, cette situation concerne aussi bien les concepteurs de systèmes électroniques que les personnes assurant la maintenance de ces mêmes systèmes.

Programme :

- 13h45/14h00 : Accueil des participants

- 14h00/16h00 : Présentation
  • le test sur carte et hors carte
  • le principe de l’état forcé, norme de référence
  • le test fonctionnel
  • le test par analyse V/I
  • la conformité des composants et la disparité de lot

- 16h00 : Démonstrations

- 17H00 : Questions / Réponses

Intervenants :
Michel ROSSO et Ghislain HAZARD

Lieu de l’événement :
ENSEM – INPL
Salle Ernest BICHAT
2 Avenue de la Forêt de Haye
54516 Vandoeuvre les Nancy

Contact et inscription :
Jean-Christophe MARPEAU
Email : marpeau@captronic.fr
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