Trouvez les solutions pour réussir dans toutes les phases de vos projets en CEM, Foudre et ESD

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Mercredi 8 octobre 2014TOULOUSE (31)
CONFERENCE 1 : CEM, Foudre, ESD : Les solutions pour réussir votre conception
CONFERENCE 2 : La CEM dans le domaine civil : de la conception au marquage CE
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CEM, Foudre, ESD : Les solutions pour réussir votre conception

Cas concrets industriels et méthodes d’investigation innovantes pour :
  • Réussir la conception d’équipements électroniques face aux agressions (CEM, foudre et décharges électrostatiques)
  • Tenir les exigences de compatibilité électromagnétique

Programme de la journée :

Méthodes d’investigation en Champ Proche pour optimiser la conception CEM :
  • Analyses préliminaires
  • Investigations en Emission
  • Investigations en Immunité Nouveauté
  • Gestion des évolutions et obsolescences
  • Perspectives (Pré-Qualification / Normalisation)

Dimensionnements des protections Foudre et Méthodes d’investigation ESD :
  • Optimisation (encombrement, masse, ...)
  • Nouveaux concepts de composants
  • Dimensionnement par simulation
  • Investigation par essais

Intervenants :

Experts CEM, Foudre et ESD des secteurs aéronautique, automobile, spatial et civil :
AIRBUS, BARCO, LAAS-CNRS, LITTELFUSE, NEXIO, WÜRTH Elektronik, ...

INSCRIPTION

La CEM dans le domaine civil : de la conception au marquage CE

Démarche, règles, cas concrets et outils pour :
  • Appréhender la démarche marquage CE
  • Interpréter les contraintes CEM liées au marquage CE
  • Connaître les règles de base de la conception CEM d’un produit électronique

Programme de la journée :

La démarche Marquage CE :
  • Responsabilités et enjeux
  • Comprendre les directives et les normes
  • Mettre en place le processus

Les contraintes CEM liées au Marquage CE :
  • Présentation et interprétation des normes d’essais CEM
  • Matériels et réalisation des essais
  • Conséquences sur les produits

La conception CEM d’un produit électronique :
  • Couplage des perturbations
  • Câblage et blindage des équipements
  • Protections E/S des boitiers (filtrage, surtensions, …)

Intervenants :

Experts marquage CE et conception : ASSYSTEM, NEXIO...

EXPOSITIONS

Vous pourrez profiter des pauses et du buffet déjeunatoire pour découvrir :

> BAT-SCANNER  : Nouveau système de mesures CEM en champ proche automatisé
> WÜRTH Elektronik : Fabricant de composants électroniques et électromécaniques
> LITTELFUSE : Leader en matière de protection des circuits électroniques

INSCRIPTION
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Le programme CAP’TRONIC est financé par le Ministère de l’Economie et des Finances.