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Conférence ENOVA Nantes : Le test des cartes électroniques : Quelle est la bonne stratégie ?

Mercredi 3 avril Nantes (44)

Dans le cadre du salon ENOVA Nantes 2019, WE NETWORK et CAP’TRONIC vous invitent à venir participer à cette conférence.

Les fabricants de cartes électroniques et les bureaux d’études font face de plus en plus à l’exigence de qualité de leurs produits avec une pression sans cesse croissante sur les prix. Il est donc nécessaire de bien maîtriser les processus de fabrication et avoir une stratégie de test bien adaptée. Cette stratégie devient la clé de voute pour l’obtention d’un produit « bon du premier coup » (First past Yield). L’ensemble de la chaîne de fabrication évolue et une compréhension de l’usage et du rôle des différents outils de test apparait aujourd’hui primordiale. Comment déployer cette stratégie de test à travers la mise en œuvre du design for test (Dft). Comment l’AOI, SPI, s’intègre dans cette stratégie ?
L’objectif de cet atelier est d’apporter un éclairage sur ces technologies et la mise en place d’une stratégie adaptée de test.

Intervenants

  • Vi TECHNOLOGY - Yan MANISSADJIAN/ Olivier PIROU
  • Design for Test (Dft) : - Comment contribuer dès les phases de conception à la production sans défaut ? - Christophe LOTZ/Philippe MASSOLO - ASTER TECHNOLOGIES

Contact :

Jean-Philippe ENEAU - 06 88 44 89 49

Date et lieu de l’événement :

mercredi 3 avril de 14h30 à 16h
Nantes - Cité des Congrès
Salle 1 - Niveau 1

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